所有装置一覧
・静的表面張力計 Kyowa CBVP-Z & Kruss K100
・動的表面張力計 Kyowa BP-D5 & Kruss K11
・接触角・ペンダントドロップ型表面張力計
Kyowa Drop Master
・界面粘弾性測定装置 Kyowa SVR-A
・LB膜作製装置(表面圧測定装置) Kyowa HBM-A
ゼータ電位・粒子径測定機器
・ゼータ電位・動的光散乱測定装置 Nicomp380 ZLS
・静的光散乱測定装置 Wyatt DAWN EOS
・高感度示差屈折計 Otsuka DRM-3000
・超音波減衰式粒子径測定装置 Matec APS100
・超音波式ゼータ電位測定装置 Matec ESA8000
・小角X線散乱測定装置 Anton Paar SAXSess
・水晶振動子マイクロバランス Q-Sense E1
・ガス吸着量測定装置 Quantachrome Autosorb-1-MP
Quantachrome Autosorb-3B
・レオメーター TA-AR
・タービスキャン Formulaction MA2000
顕微鏡
・走査型電子顕微鏡 Hitachi S-3400
・総合研究機構 研究機器センター所属
透過型電子顕微鏡(低温ユニット・凍結割断ユニット装備)
Hitachi H-7650
・原子間力顕微鏡 SII SPI3800 & SII SPI4000
・倒立型光学顕微鏡・偏光顕微鏡 Olympus IMT-2
・プロペラ撹拌式乳化試験機 Nikkol ET-3A
・電気毛管乳化装置
・クリアミックス M-Technique CLM-0.8S
汎用機器
・示差走査熱量計 Rigaku DSC8230
・熱重量・示差熱分析装置 Shimadzu DTG-60A
・紫外可視吸収スペクトロメーター Agilent 8453E
Hitachi U-3310
・フーリエ変換型赤外吸収スペクトロメーター
JASCO FT-IR 6100
・蛍光スペクトロメーター Shimadzu RF-5300PC
・高速液体クロマトグラフィー JASCO LC-2000 Series
・ガスクロマトグラフィー Shimadzu GC-2014
・全有機炭素測定装置 Shimadzu TOC-VCPH
・カールフィッシャー水分計 KEM MKC-610
東京理科大学
野田キャンパス
至梅郷
至運河
3号館
12号館
XMA室
6号館
〒278-8510 千葉県野田市山崎 2641 総合研究機構 阿部正彦研究室
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