1.「第3回プロトンビームライティングとその応用に関するシンポジウム報告」
芝浦工業大学　 西川　宏之

2. 「汎用SEMを用いたAqua Cover法による高含水率試料及び液体の観察」
日本電子株式会社　井上 雅行

3. 「大気圧走査電子顕微鏡の開発」
株式会社日立ハイテクノロジーズ　大南 祐介

4. 「電子顕微鏡観察下で動作可能なマイクロマニピュレータの開発と 顕微解剖への応用」
静岡大学　岩田　太

1.「クラスターイオンの３本の矢：基礎と応用」
京都大学　名誉教授　高岡　義寛

2. 「H₃⁺の高比率電界電離イオン化の発見と水素電界電離イオン源を備えた走査型イオン顕微鏡の開発」
株式会社日立製作所　松原　信一

3. 「新しいショットキーカソード材料開発の試み」
株式会社大和テクノシステムズ　矢田　慶治

4. 「4D-STEM；高速デジタルカメラを用いた走査透過電子顕微鏡(STEM)像取得の実現に向けて」
株式会社日本ローパー　ガタン事業本部　伊野家　浩司

5. 「超伝導遷移端センサ型マイクロカロリメータの透過型電子顕微鏡分析装置への応用」
物質・材料研究機構　原　徹

1.「EIPBN2016およびMNE2016国際会議報告」　　　
東京理科大学　基礎工学部　谷口　淳

2. 「イオンビーム照射を利用した無機材料の磁性改質」
大阪府立大学　21世紀科学研究機構　松井　利之

3. 「集束イオンビームを利用した光材料開発とその場分析技術の開発」
群馬大学　大学院理工学府　加田　渉

4. 「微分代数法によるChicane型磁場セクターの収差計算」
(株)日立製作所　研究開発グループ　白崎　保宏

5. 「SEMによる10 nm以下パターン観察画像のラインプロファイル解析」
(株)日立製作所　研究開発グループ 　波田野 道夫

1.「多分割検出器を用いた原子分解能微分位相コントラストSTEM法の開発」　　
東京大学大学院　工学系研究科　柴田直哉

2. 「E-θ検出器によるカラー SEM像の取得とその応用」
日本電子（株）　開発基盤技術センター　大塚 岳志

3. 「TEMデータへの多変量解析の適用」
物質・材料研究機構 技術開発・共用部門 　上杉文彦

4. 「ヘリウムイオン顕微鏡の可能性について」
カールツアイスマイクロスコピー（株）インダストリーセースルディパートメント　河野一郎

1.「高速重イオンと材料照射効果」
物質・材料研究機構 雨倉　宏

2. 「SIMS技術の基礎と有機材料分析への展開について」
京都大学 瀬木　利夫

3. 「電子ビームリソグラフィにおけるレジスト反応とパターン形成原理」
大阪大学 山本　洋揮