所有装置一覧

・静的表面張力計   Kyowa CBVP-Z & Kruss K100

・動的表面張力計   Kyowa BP-D5 & Kruss K11

・接触角・ペンダントドロップ型表面張力計

　Kyowa Drop Master

・界面粘弾性測定装置　Kyowa SVR-A

・LB膜作製装置（表面圧測定装置）　Kyowa HBM-A

ゼータ電位・粒子径測定機器

・ゼータ電位・動的光散乱測定装置　Nicomp380 ZLS

・静的光散乱測定装置　Wyatt DAWN EOS

・高感度示差屈折計　Otsuka DRM-3000

・超音波減衰式粒子径測定装置　Matec APS100

・超音波式ゼータ電位測定装置　Matec ESA8000

・小角X線散乱測定装置　Anton Paar SAXSess

・水晶振動子マイクロバランス　Q-Sense E1

・ガス吸着量測定装置　Quantachrome Autosorb-1-MP

　Quantachrome Autosorb-3B

・レオメーター　TA-AR

・タービスキャン　Formulaction MA2000

顕微鏡

・走査型電子顕微鏡　Hitachi S-3400

・総合研究機構　研究機器センター所属

　透過型電子顕微鏡（低温ユニット・凍結割断ユニット装備）

　Hitachi H-7650

・原子間力顕微鏡　SII SPI3800 & SII SPI4000

・倒立型光学顕微鏡・偏光顕微鏡　Olympus IMT-2

・プロペラ撹拌式乳化試験機　Nikkol ET-3A

・電気毛管乳化装置

・クリアミックス　M-Technique CLM-0.8S

汎用機器

・示差走査熱量計　Rigaku DSC8230

・熱重量・示差熱分析装置　Shimadzu DTG-60A

・紫外可視吸収スペクトロメーター　Agilent 8453E

　Hitachi U-3310

・フーリエ変換型赤外吸収スペクトロメーター

　JASCO FT-IR 6100

・蛍光スペクトロメーター　Shimadzu RF-5300PC

・高速液体クロマトグラフィー　JASCO LC-2000 Series

・ガスクロマトグラフィー　Shimadzu GC-2014

・全有機炭素測定装置　Shimadzu TOC-VCPH

・カールフィッシャー水分計　KEM MKC-610

東京理科大学

野田キャンパス

至梅郷

至運河

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XMA室

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