instruments
当研究室で所有(管理)している主な装置
静的表面張力計
Kyowa CBVP-Z & Kruss K100
Static Surface Tensiometer
動的表面張力計
Kyowa BP-D5 & Kruss K11
Dynamic Surface Tensiometer
接触角・ペンダントドロップ型表面張力計
Kyowa Drop Master
Contact Angle & Pendant Drop-Type
Surface Tensiometry
界面粘弾性測定装置
Kyowa SVR-A
Automatic Surface Viscoelastic Meter
LB膜作製装置(表面圧測定装置)
Kyowa HBM-A
LB Trough (Surface Pressure – Area Isotherm Equipment)
ゼータ電位・動的光散乱測定装置
Nicomp380 ZLS
Zeta-Potential & Particle-Size Analyzer
静的光散乱測定装置
Wyatt DAWN EOS
Static Light Scattering Analyzer
高感度示差屈折計
Otsuka DRM-3000
Differential Refractometer
超音波減衰式粒子径測定装置
Matec APS100
Acoustic Attenuation Particle Size Analyzer
超音波式ゼータ電位測定装置
Matec ESA8000
Electroacoustic Analyzer
小角X線散乱測定装置
Anton Paar SAXSess
Small-Angle X-Ray Scattering
Q-Sense E1
水晶振動子マイクロバランス
Quartz Crystal Microbalance with Dissipation Monitoring
ガス吸着量測定装置
Quantachrome Autosorb-1-MP
Quantachrome Autosorb-3B
Gas Sorption Analyzer
レオメーター
TA-AR
Rheometer
タービスキャン
Formulaction MA2000
Turbiscan
プロペラ撹拌式乳化試験機
Nikkol ET-3A
Emulsification Mixer
電気毛管乳化装置
Electro-Capillary Emulsification Instrument
クリアミックス
M-Technique CLM-0.8S
Clearmix
走査型電子顕微鏡
Hitachi S-3400
Scanning Electron Microscope
原子間力顕微鏡
SII SPI3800 & SII SPI4000
Atomic Force Microscope
倒立型光学顕微鏡・偏光顕微鏡
Olympus IMT-2
Optical Microscope & Polarized Optical Microscope
<総合研究機構 研究機器センター 所属>
透過型電子顕微鏡
(低温ユニット・凍結割断ユニット装備)
Hitachi H-7650
Transmission Electron Microscope
(Cryo-TEM & FF-TEM)
示差走査熱量計
Rigaku DSC8230
Differential Scanning Calorimeter
熱重量・示差熱分析装置
Shimadzu DTG-60A
Thermo-Gravimetry and Differential Thermal Analyzer
紫外可視吸収スペクトロメーター
Agilent 8453E & Hitachi U-3310
UV-Vis Absorption Spectrometer
フーリエ変換型赤外吸収スペクトロメーター
JASCO FT-IR 6100
IR Spectrometer
蛍光スペクトロメーター
Shimadzu RF-5300PC
Fluorescence Spectrometer
高速液体クロマトグラフィー
JASCO LC-2000 Series
High-Performance Liquid Chromatography
ガスクロマトグラフィー
Shimadzu GC-2014
Gas Chromatography
全有機炭素測定装置
Shimadzu TOC-VCPH
Total organic Carbon Analyzer
カールフィッシャー水分計
KEM MKC-610
Karl Fischer Moisture Titrator