関係者の方へ

サイトビジットについて

公募班を対象に、総括班によるサイトビジットを下記の日程(2021/2/22~3/11)で行います。

2/22(月) 3/2(火) 3/11(木)
10:00-10:30 山浦先生(A01)
10:45-11:15 吉澤先生(A02)
11:30-12:00 鈴木先生(A04)
10:00-10:30 亀岡先生(A04)
10:45-11:15 幸坂先生(A04)
11:30-12:00 湯葢先生(A02)
13:00-13:30 柚原先生(A01)
13:45-14:15 山本先生(A01)
14:30-15:00 Stellhorn先生(A02)
15:15-15:45 酒井先生(A04)
16:00-16:30 松本先生(A02)
10:00-10:30 関山先生(A04)
10:45-11:15 大熊先生(A04)
11:30-12:00 村上先生(A04)
13:00-13:30 那波先生(A04)
13:45-14:15 義永先生(A03)
14:30-15:00 手塚先生(A04)
15:15-15:45 坂井先生(A04)
16:00-16:30 井手上先生(A01)
16:45-17:15 永井先生(A03)

計画班を対象に、総括班によるサイトビジットを下記の日程で行います。

9/7(月) 9/23(水) 9/24(木) 9/25(金)
13:00-13:30 橋爪先生(A04)
13:45-14:15 高際先生(A04)
14:30-15:00 出口先生(A04)
15:15-15:45 高倉先生(A02)
16:00-16:30 田村先生(A01)
10:00-10:30 杉本先生(A04)
10:45-11:15 中村先生(A04)
11:30-12:00 枝川先生(A04)
13:00-13:30 藤田先生(A02)
13:45-14:15 松下先生(A02)
14:30-15:00 山田先生(A01)
16:00-16:30 野澤先生(A03)
16:45-17:15 桂先生(A03)
17:30-18:00 吉田先生(A03)
10:00-10:30 綿貫先生(A02)
10/7(水) 10:00-10:30 綿貫先生(A02)
10:45-11:15 松浦先生(A02)
10/7(水) 10:45-11:15 松浦先生(A02)
11:30-12:00 古賀先生(A04)
10:00-10:30 門馬先生(A02)
10:45-11:15 竹森先生(A03)
11:30-12:00 木村先生(A01)
13:00-13:30 室先生(A01)

研究を進める上での具体的な問題点

詳細はこちらをご覧ください。


Materials Transactionsへの論文投稿について

日本金属学会の欧文誌 Materials Transactions 62巻3号(2021年3月発行)にてハイパーマテリアルに関する特集企画が予定されております。
計画班メンバーの皆様におかれましては、お一人一報以上、公募班メンバーも含め、できる限り多くの領域メンバーとの融合研究(共著論文)として投稿下さいますようお願い申し上げます。また、公募班メンバーの方々も〆切が大変近くて恐縮ですが、できれば、ご投稿いただければ幸いです。なおご寄稿いただける方は,下記Webより予備登録をお願いいたします。

【掲載予定号】 第62巻第3号(2021年3月発行)
【原稿締切日】 2020年9月1日(火)厳守 ⇒ 10/1(木)に延期
【企画世話人】 田村 隆治、高倉 洋礼、出口 和彦、吉田 亮、木村 薫

執筆に際しては,日本金属学会欧文誌投稿の手引き・執筆要領(下記URL)をご参照ください。
https://jim.or.jp/PUBS/thesis_e/gude_e.html

ご投稿の際は下記ページからお願いいたします。
https://mc.manuscriptcentral.com/matertrans

通常の投稿論文と同様の審査課程を経て,編集委員会で採否を決定します。
(ただし,修正を求められたRegular Articleは返却日から20日以内,Express Rapid Publicationは14日以内に再提出すること。)

問い合せ先:日本金属学会欧文誌編集委員会
 〒980-8544 仙台市青葉区一番町1-14-32
 TEL 022-223-3685 FAX 022-223-6312
  E-mail: editjt@jim.or.jp
  (URL):https://jim.or.jp/

謝辞のお願い

論文等により成果を発表する場合には、Acknowledgement(謝辞)の記載をよろしくお願いいたします。

本領域での記載例は次のとおりです。
【英文】:This work was supported by JSPS KAKENHI Grant Number JP8桁の課題番号.
【和文】:本研究はJSPS科研費 JP8桁の課題番号の助成を受けたものです。

計画研究の課題番号と課題名の対応は以下の通りです。
(公募班の先生方は、謝辞にご自分の課題番号を加えてください。)
19H05817:ハイパーマテリアル:補空間が創る新物質科学
19H05818:ハイパーマテリアルの合成
19H05819:ハイパーマテリアルの構造
19H05820:ハイパーマテリアルのインフォマティクスとhidden orderの探索
19H05821:ハイパーマテリアルの物性とhidden orderの探索

共用装置

新学術予算で購入した装置

磁気特性測定装置

詳細
装置メーカー/型番 日本カンタム・デザイン / MPMS3
測定物理量 磁化
仕様 試料サイズ:~4mmφ×40mm 程度
測定温度範囲:1.8~400 K ,B <7 T
測定雰囲気:真空、ヘリウム
備考 真鍮、石英、ストロー、粉末試料用ホルダー有
利用方法 装置担当者(石川)にメールで申請。連絡先:a_ishikawa@rs.tus.ac.jp 試料郵送による測定も応相談。
利用条件 特筆事項はありません。
装置管理者名/所属 石川明日香(東京理科大学)
利用スケジュール
単結晶X線構造解析システム

詳細
装置メーカー/型番 リガク XtaLAB Synergy-R/Mo/QC
測定物理量 単結晶構造解析
仕様 試料サイズ:数十ミクロン以下
温度範囲:90 K(N2)~室温
備考 室温以下の測定にはあらかじめ準備が必要です。応相談。
利用方法 装置管理者(高倉洋礼)までメールでご連絡下さい。連絡先:takakura@eng.hokudai.ac.jp
試料郵送による測定可。解析までは応相談。
利用条件 消耗品は利用者負担でお願いします。
装置管理者名/所属 高倉洋礼(北海道大学)
中性子背面反射型分光器クライオスタット

詳細
装置メーカー/型番 CRYO INDUSTRIES
測定物理量 中性子散乱
仕様 試料サイズ:最大30x30x40mm
測定温度範囲:1.5K~300K (MLF所有の希釈冷凍機インサートを用いれば最低温度は65mK)
測定雰囲気:ヘリウムもしくは真空
備考 室温から1.5Kまで20分で冷却可能。測定時間は試料の中性子散乱能に依存する。
利用方法 装置担当者(松浦)にメールで相談。連絡先:m_matsuura@cross.or.jp
利用条件 中性子のビームタイムは課題申請(年2回:5月、11月)を行い、
採択されれば申請の約半年後に実験できる。
装置管理者名/所属 松浦直人(CROSS)
高温比熱測定装置

詳細
装置メーカー/型番 Netzsch DSC404-F3
測定物理量 比熱容量
仕様 試料サイズ:数mm角
測定温度範囲:室温から1500℃
測定雰囲気:Arガスフロー(標準)
備考 測定温度域によって使用する試料容器が異なります。
利用方法 装置管理者(高際良樹)までメールでご連絡下さい。連絡先:TAKAGIWA.Yoshiki@nims.go.jp
利用条件 消耗品は利用者負担でお願いします。
装置管理者名/所属 高際良樹(NIMS)
高温型熱分析装置

詳細
装置メーカー/型番 リガク/ThermoPlusEVO2 TG-DTA8122, DSC8271
測定物理量 ・示差熱、熱重量
・示差走査熱量
仕様 試料サイズ:試料容器φ5.2mm H2.5/5.0mm
測定温度範囲:室温から1200℃
測定雰囲気:Arガスフロー
備考 粉末またはバルク試料のいずれでも良いが、バルク試料の方が酸化等の影響が軽減される。
試料のセットから測定室内を不活性ガス置換するまで30分~1時間程度要する。測定時間は温度プログラムに依存。
利用方法 装置管理者(藤田伸尚)にメール連絡。試料郵送による測定も応相談。連絡先:nobuhisa.fujita.a4@tohoku.ac.jp
利用条件 測定試料多数の場合、消耗品は利用者負担でお願いします。
装置管理者名/所属 藤田伸尚 (東北大学)
粉末X線回折装置

詳細
装置メーカー/型番 リガク MiniFlex600
測定物理量 結晶相同定、結晶構造解析
仕様 Cu線源またはCr線源
試料サイズ:25x20x>0.2 mm
常用温度範囲:室温
測定雰囲気:大気
オプション:高速1次元X線検出器
PDXL定性分析
PDXLリートベルト解析
備考 試料を送っていただくか、来学していただき測定していただきます。2~12時間程度の時間を要します。
利用方法 装置管理者(高倉洋礼)までメールでご連絡下さい。連絡先:takakura@eng.hokudai.ac.jp
試料郵送による測定も応相談。
利用条件 消耗品は利用者負担でお願いします。
装置管理者名/所属 高倉洋礼(北海道大学)
粉末X線回折実験用高真空対応高温炉

詳細
装置メーカー/型番 RIGAKU 多目的電気炉
測定物理量 熱膨張係数、結晶構造変化
仕様 試料サイズ:15x7x0.4 mm
測定温度範囲:室温から1000℃
測定雰囲気:真空(TMPレベル)
備考 N2, O2, Ar雰囲気下での実験を希望される方は別途打診下さい。
利用方法 下記の両装置担当者(廣戸&松下)までメールにて申請。
連絡先:HIROTO.Takanobu@nims.go.jp、MATSUSHITA.Yoshitaka@nims.go.jp
利用条件 約款事業手続きをして頂き、NIMIS規定に伴い幾らかの装置使用料の負担をお願いします。
装置管理者名/所属 廣戸孝信、松下能孝(NIMS)
数値計算用ワークステーション

詳細
装置メーカー/型番 アプライドCervo-Deep GP-XW2145A3Q4TTSDDe
測定物理量 計算値
仕様 Intel Xeon W-2145(8コア, 11MB, 3.7GHz)
メモリ:128GB
GPU:GeForce RTX 2080Ti×4
SSD:3.8TB
装置管理者名/所属 枝川圭一 (東京大学)
100nm級粒子観察用デジタルマイクロスコープ

詳細
装置メーカー/型番 (株)キーエンス社 VHX-7000
測定物理量 可視光像
仕様 試料サイズ:最小約300 nm径
使用温度範囲:室温
使用雰囲気:大気中
利用方法 装置担当者(綿貫)までメールでご連絡下さい。連絡先:watanuki.tetsu@qst.go.jp
利用条件 SPring-8蓄積リング棟内に設置していますので、立ち入り可能な方に限定されます。
装置管理者名/所属 綿貫徹(量研)
ワイヤーソー

詳細
装置メーカー/型番 オーリー OW-2
用途 試料切断
仕様 試料サイズ:最大50mm角(小型ゴニオ使用時は10mm以内)
切りしろ 0.6mm
前後移動+2軸回転機構
備考 リガク小型ゴニオ設置可能
利用方法 装置担当者(室)までメールでご連絡下さい。連絡先:ymuro@pu-toyama.ac.jp
装置管理者名/所属 室裕司(富山県立大)
スイングヘッドズームレンズ

詳細
装置メーカー/型番 キーエンス VH-ZST
測定物理量 光学像
仕様 倍率:20~2000倍
試料サイズ:最大10mm角
測定温度範囲:室温
測定雰囲気:大気
備考 キーエンスVHS-5000カメラに設置されています。3次元形状計測、スイングヘッドによる傾斜観察、
落射光・透過光観察が可能。
利用方法 枝川までメールにてご連絡。連絡先:edagawa@iis.u-tokyo.ac.jp
利用条件 USBメモリ等ご持参ください。
装置管理者名/所属 枝川圭一 (東京大学)
物理特性測定システム

詳細
装置メーカー/型番 日本カンタム・デザイン PPMS
測定物理量 比熱、電気(磁気)抵抗、Hall係数
仕様 試料サイズ:5~50mg、1mmx0.1mmx0.03mm以上
測定温度範囲:1.8~400K、B < 9T
測定雰囲気:真空、ヘリウム
備考 試料を送っていただくか、来ていただいて測定していただく。必要な時間は測定内容に大きく依存します。
利用方法 装置担当者(出口和彦)までメールにて申請。連絡先:deguchi@nagoya-u.jp
利用条件 消耗品、寒剤代(? : 液体ヘリウム高騰につき検討中)は利用者負担でお願いします。
装置管理者名/所属 出口和彦(名古屋大学)

領域内で共有可能な装置

熱電モジュール特性評価装置

詳細
装置メーカー/型番 アドバンス理工 Mini-PEM
測定物理量 モジュール出力密度、モジュール発電効率
仕様 試料サイズ:最大15mm角モジュール
測定温度範囲:室温から500℃
測定雰囲気:真空下
備考 測定温度点数4点に対して、試料セットから真空引きも含めて、総測定時間4時間程度の時間を要します。
利用方法 装置担当者(高際良樹)までメールにて申請。連絡先:TAKAGIWA.Yoshiki@nims.go.jp
利用条件 消耗品は利用者負担でお願いします。
装置管理者名/所属 高際良樹(NIMS)
Cr線源XRD

詳細
装置メーカー/型番 RIGAKU MiniFlex600
測定物理量 結晶相同定、結晶構造解析
仕様(試料サイズ等) 試料サイズ:25x20x>0.2 mm
常用温度範囲:室温
測定雰囲気:大気
備考 Si無反射板、バルク試料用ホルダー有り
利用方法 下記の両装置担当者(廣戸&松下)までメールにて申請。
連絡先:HIROTO.Takanobu@nims.go.jp、MATSUSHITA.Yoshitaka@nims.go.jp
利用条件 約款事業手続きをして頂き、NIMIS規定に伴い幾らかの装置使用料の負担をお願いします。                
装置管理者名/所属 廣戸孝信、松下能孝(NIMS)
キャピラリー試料用アタッチメント(高輝度・高感度型XRD用)

詳細
装置メーカー/型番 RIGAKU SmartLab 9kW
測定物理量 結晶相同定、結晶構造解析
仕様 キャピラリー・サイズ:1.0 mm以下
温度範囲:室温
利用方法 下記の両装置担当者(廣戸&松下)までメールにて申請。
連絡先:HIROTO.Takanobu@nims.go.jp、MATSUSHITA.Yoshitaka@nims.go.jp
利用条件 約款事業手続きをして頂き、NIMIS規定に伴い幾らかの装置使用料の負担をお願いします。
装置管理者名/所属 廣戸孝信、松下能孝(NIMS)
中低温度用アタッチメント(高輝度・高感度型XRD用)

詳細
装置メーカー/型番 RIGAKU TTK600/SmartLab 9kW
測定物理量 結晶相同定、結晶構造解析
仕様 試料ホルダー・サイズ:14x10xD0.8/0.2mm
温度範囲:-190~600℃
雰囲気:真空もしくはN2
備考 Si無反射板有り
利用方法 下記の両装置担当者(廣戸&松下)までメールにて申請。
連絡先:HIROTO.Takanobu@nims.go.jp、MATSUSHITA.Yoshitaka@nims.go.jp
利用条件 約款事業手続きをして頂き、NIMIS規定に伴い幾らかの装置使用料の負担をお願いします。
装置管理者名/所属 廣戸孝信、松下能孝(NIMS)
低温単結晶回折計

詳細
装置メーカー/型番 RIGAKU SaturnCCD
測定物理量 結晶構造解析
仕様 試料サイズ:数十ミクロン以下
温度範囲:30 K(He)、90 K(N2)~室温
利用方法 下記の両装置担当者(廣戸&松下)までメールにて申請。
連絡先:HIROTO.Takanobu@nims.go.jp、MATSUSHITA.Yoshitaka@nims.go.jp
利用条件 約款事業手続きをして頂き、NIMIS規定に伴い幾らかの装置使用料の負担をお願いします。
Heを利用される場合のみ、Heガス代は別途御願い致します。
(目安:1日に47lのHeボンベを4~5本消費します。)
装置管理者名/所属 松下能孝(NIMS)
3He 冷凍機

詳細
装置メーカー/型番 オックスフォード・インストゥルメンツ HelioxVL
測定物理量 比熱、電気抵抗、交流磁化率
仕様 試料サイズ:5~50mg、1mmx0.1mmx0.03mm以上
測定温度範囲:0.24~20K (0.24~300K)
測定雰囲気:真空
備考 試料を送っていただくか、来学していただき測定していただきます。
必要な時間は測定内容に大きく依存します。
利用方法 装置担当者(出口和彦)までメールにて申請。連絡先:deguchi@nagoya-u.jp
利用条件 消耗品、寒剤代(? : 液体ヘリウム高騰につき検討中)は利用者負担でお願いします。
装置管理者名/所属 出口和彦(名古屋大学)
示差熱天秤(TG-DTA)

詳細
装置メーカー/型番 リガク Thermo plus EVO2 TG-DTA
測定物理量 試料の作製条件、高温熱物性に関するもの
仕様 試料サイズ:試料サイズ:20mg
測定温度範囲:室温~1500℃
測定雰囲気:アルゴン
備考 試料を送っていただくか、来学していただき測定していただきます。4時間程度の時間を要します。
利用方法 装置担当者(出口和彦)までメールにて申請。連絡先:deguchi@nagoya-u.jp
利用条件 消耗品は利用者負担でお願いします。
装置管理者名/所属 出口和彦(名古屋大学)
粉末X線回折装置

詳細
装置メーカー/型番 リガク MiniFlex600
測定物理量 試料の構造に関するもの
仕様 試料サイズ:0.5g、粉末
測定温度範囲:室温
測定雰囲気:大気中
オプション:高速1次元X線検出器
回転試料台
PDXL定性分析
PDXLリートベルト解析
備考 試料を送っていただくか、来学していただき測定していただきます。2~12時間程度の時間を要します。
利用方法 装置担当者(出口和彦)までメールにて申請。連絡先:deguchi@nagoya-u.jp
利用条件 消耗品は利用者負担でお願いします。
装置管理者名/所属 出口和彦(名古屋大学)
イオンミリング

詳細
装置メーカー/型番 Gatan Model 695 PIPS Ⅱ
測定物理量 TEM試料作製
仕様 イオン加速電圧: 100 eV ~8 keV
イオンビーム電流: 最高 10 mA/cm2
ミリング角度範囲: 0 ~±10°
試料形状: 3 mmφ の円盤
備考 汎用型ですが,試料冷却(液体窒素)ステージ搭載。
利用方法 装置担当者(湯葢)にメールで申請。連絡先:yubuta@imr.tohoku.jp
装置管理者名/所属 湯葢邦夫(東北大)
超電導マグネット

詳細
装置メーカー/型番 Cryogenics
測定物理量 電気抵抗率、磁気抵抗、ホール効果
仕様 測定温度範囲:室温から0.4K
測定雰囲気:4Heまたは3He(液体)
測定磁場:12T
備考 抵抗率は2試料同時測定
ホール効果は1試料
利用方法 装置担当者(室)にメールで申請。連絡先:ymuro@pu-toyama.ac.jp
利用条件 消耗品負担は相談にて
装置管理者名/所属 室裕司(富山県立大)
ホール効果測定装置

詳細
装置メーカー/型番 東陽テクニカ ResiTest 8300
測定物理量 電気伝導率、ホール係数(キャリアの符号、密度、移動度)
仕様 試料サイズ:5mm角以上、厚さ1mm程度
測定温度範囲:室温から700℃
測定雰囲気:真空下
備考 0.5人・日/試料(1人来ていただき、1日に2個測定できる)
利用方法 装置担当者(木村薫)にメールで申請。連絡先:bkimura@phys.mm.t.u-tokyo.ac.jp
装置管理者名/所属 木村薫(東京大学)
テトラアーク炉

詳細
装置メーカー/型番 SELEC
備考 試料引上機構、ハース回転機構
利用方法 装置担当者(室)にメールで申請。連絡先:ymuro@pu-toyama.ac.jp
原料負担は相談にて。
装置管理者名/所属 室裕司(富山県立大))
ホール効果測定装置

詳細
装置メーカー/型番 東陽テクニカ ResiTest 8300
測定物理量 電気伝導率、ホール係数(キャリアの符号、密度、移動度)
仕様 試料サイズ:5mm角以上、厚さ1mm程度
測定温度範囲:室温から700℃
測定雰囲気:真空下
備考 0.5人・日/試料(1人来ていただき、1日に2個測定できる)
利用方法 装置担当者(木村薫)にメールで申請。連絡先:bkimura@phys.mm.t.u-tokyo.ac.jp
装置管理者名/所属 木村薫(東京大学)
密度測定装置

詳細
装置メーカー/型番 島津製作所 アキュピック1330
測定物理量 真密度
仕様 試料サイズ:舞い易いものでなければ粉末も可
測定温度範囲:室温のみ
測定雰囲気:He雰囲気下
備考 1時間/試料
利用方法 装置担当者(木村薫)にメールで申請。連絡先:bkimura@phys.mm.t.u-tokyo.ac.jp
装置管理者名/所属 木村薫(東京大学)
高温ブリッジマン炉(螺管型シリコニット電気炉)

詳細
装置メーカー/型番 シリコニット高熱工業
測定物理量 単結晶合成用
仕様 温度:最大1400 ℃
利用方法 装置担当者(那波和宏)にメールで申請。連絡先:knawa@tohoku.ac.jp
装置管理者名/所属 那波和宏、佐藤卓(東北大)
熱伝導率測定装置

詳細
装置メーカー/型番 Netzsch LFA467-HT
測定物理量 比熱、熱拡散率、熱伝導率
仕様 試料サイズ:7mm角/Φ7mmもしくは10mm角/Φ10mm、厚さ2mm程度
測定温度範囲:室温から1250℃
測定雰囲気:Arガスフロー(標準)
備考 室温からの6温度点測定で5時間ぐらいの時間を要します。
利用方法 装置担当者(高際良樹)にメールで申請。連絡先:TAKAGIWA.Yoshiki@nims.go.jp
利用条件 消耗品は利用者負担でお願いします。
装置管理者名/所属 高際良樹(NIMS)
その場試料観察機構付き熱重量・示差熱同時測定装置

詳細
装置メーカー/型番 日立ハイテクサイエンス STA7200RV
測定物理量 熱重量データ、示差熱データ
仕様 試料サイズ:数mm角
測定温度範囲:室温から1000℃
測定雰囲気:窒素ガスフロー(標準)
備考 TG/DTA測定をしながら試料の実観察が可能です。
利用方法 装置担当者(高際良樹)にメールで申請。連絡先:TAKAGIWA.Yoshiki@nims.go.jp
利用条件 消耗品は利用者負担でお願いします。
装置管理者名/所属 高際良樹(NIMS)
電気抵抗率/Seebeck係数同時測定装置

詳細
装置メーカー/型番 アドバンス理工 ZEM-3
測定物理量 電気抵抗率、ゼーベック係数
仕様 試料サイズ:2-3mm角、長さ6mm以上の角柱試料
測定温度範囲:室温から1000℃
測定雰囲気:ヘリウムガス雰囲気
備考 熱分析モード(任意の温度で昇温・降温・保持)にて測定も可能です。
利用方法 装置担当者(高際良樹)にメールで申請。連絡先:TAKAGIWA.Yoshiki@nims.go.jp
利用条件 消耗品は利用者負担でお願いします。
装置管理者名/所属 高際良樹(NIMS)
粉末X線回折装置

詳細
装置メーカー/型番 リガク/MiniFlex600
測定物理量 結晶相同定など
仕様 試料サイズ:試料ホルダー 2mmΦ×0.2mm~24mmΦ×2mm
測定温度範囲:RT~500℃
測定雰囲気:大気、窒素
オプション:回転試料台、高速1次元X線検出器、高温測定用試料ホルダー
備考 Si無反射試料板有
利用方法 装置担当者(石川)にメールで申請。連絡先:a_ishikawa@rs.tus.ac.jp 試料郵送による測定も応相談。
利用条件 特筆事項はありません。
装置管理者名/所属 石川明日香(東京理科大学)
アーク溶解装置

詳細
装置メーカー/型番 日新技研
仕様 試料サイズ:~10g程度
試料室雰囲気:アルゴン
利用方法 装置担当者(石川)にメールで申請。連絡先:a_ishikawa@rs.tus.ac.jp 原料郵送による試料作製も応相談。
利用条件 特筆事項はありません。
装置管理者名/所属 石川明日香(東京理科大学)
液体急冷単ロール装置

詳細
装置メーカー/型番 日新技研
仕様 試料サイズ:1~5g 程度
試料室雰囲気:アルゴン
備考 鋳造も可能
利用方法 装置担当者(石川)にメールで申請。連絡先:a_ishikawa@rs.tus.ac.jp 原料郵送による試料作製も応相談。
利用条件 特筆事項はありません。
装置管理者名/所属 石川明日香(東京理科大学)
ブリッジマン炉

詳細
装置メーカー/型番 シリコニット / DSPSH-41GVB
仕様 試料サイズ:1~20g 程度
温度範囲:RT~1500℃
試料室雰囲気:アルゴン
利用方法 装置担当者(石川)にメールで申請。連絡先:a_ishikawa@rs.tus.ac.jp 原料郵送による試料作製も応相談。
利用条件 特筆事項はありません。
装置管理者名/所属 石川明日香(東京理科大学)
蛍光X線分析装置

詳細
装置メーカー/型番 JEOL/JSX-1000S
測定物理量 組成分析
仕様 試料サイズ:~ 300mmΦ×80mm 粉末可
測定温度範囲:室温
測定雰囲気:真空
利用方法 装置担当者(石川)にメールで申請。連絡先:a_ishikawa@rs.tus.ac.jp 試料郵送による測定も応相談。
利用条件 特筆事項はありません。
装置管理者名/所属 石川明日香(東京理科大学)
SEM-EDX

詳細
装置メーカー/型番 JEOL/JSM-IT1000S
測定物理量 二次電子像,反射電子像及び組成分析
仕様 試料サイズ:~32mmΦ×20mm
測定温度範囲:室温
測定雰囲気:真空
オプション:5軸モーター駆動ステージ,加速電圧30kV
利用方法 装置担当者(石川)にメールで申請。連絡先:a_ishikawa@rs.tus.ac.jp 試料郵送による測定も応相談。
利用条件 特筆事項はありません。
装置管理者名/所属 石川明日香(東京理科大学)
電気抵抗測定装置

詳細
測定物理量 電気抵抗
仕様 試料サイズ:10mm×4mm×0.2mm 程度
測定温度範囲:RT~16 K, RT~4 K
測定雰囲気:ヘリウム
利用方法 装置担当者(石川)にメールで申請。連絡先:a_ishikawa@rs.tus.ac.jp 試料郵送による測定も応相談。
利用条件 特筆事項はありません。
装置管理者名/所属 石川明日香(東京理科大学)
熱分析装置

詳細
装置メーカー/型番 BRUKER/2020SA-TR23, NETZSCH/3300S, リガク/DSC8230
測定物理量 示差熱、熱重量
仕様 試料サイズ:40mg程度
測定温度範囲:BRUKER/2020SA-TR23:RT~1500℃
       NETZSCH/3300S:RT~1200℃
       リガク/DSC8230:-150℃~500℃
測定雰囲気:アルゴン、大気、窒素
利用方法 装置担当者(石川)にメールで申請。連絡先:a_ishikawa@rs.tus.ac.jp 試料郵送による測定も応相談。
利用条件 特筆事項はありません。
装置管理者名/所属 石川明日香(東京理科大学)

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