サイトビジットについて
公募班を対象に、総括班によるサイトビジットを下記の日程(2022/2/28～3/10)で行います。
| 2/28(月) | 3/2(水) | 3/8(火) | 3/9(水) | 3/10(木) |
|---|---|---|---|---|
|
10:00-10:30 綿貫先生(A02) 10:45-11:15 Stellhorn先生 (A02) 11:30-12:00 吉澤先生(A02) 13:00-13:30 柚原先生(A01) 13:45-14:15 山本先生(A01) |
10:00-10:30 義永先生(A03) 10:45-11:15 永井先生(A03) 11:30-12:00 幸坂先生(A04) 13:00-13:30 坂井先生(A04) 13:45-14:15 酒井先生(A04) 14:30-15:00 村上先生(A04) |
13:00-13:30 井手上先生(A01) 13:45-14:15 大熊先生(A04) 14:30-15:00 鈴木先生(A04) |
10:00-10:30 那波先生(A04) 10:45-11:15 関山先生(A04) 11:30-12:00 亀岡先生(A04) |
10:00-10:30 湯葢先生(A02) 10:45-11:15 山浦先生(A01) 11:30-12:00 松本先生(A02) |
計画班を対象に、総括班によるサイトビジットを下記の日程(2022/1/7～1/26)で行います。
| 1/7(金) | 1/13(木) | 1/17(月) | 1/19(水) | 1/20(木) |
|---|---|---|---|---|
|
13:00-13:30 門馬先生(A02) 13:45-14:15 田村先生(A01) |
10:00-10:30 藤田先生(A02) 10:45-11:15 綿貫先生(A02) 11:30-12:00 松浦先生(A02) 13:00-13:30 山田先生(A01) 13:45-14:15 高倉先生(A02) 14:30-15:00 松下先生(A02) |
10:00-10:30 野澤先生(A03) 10:45-11:15 吉田先生(A03) 11:30-12:00 竹森先生(A03) |
10:00-10:30 杉本先生(A04) 10:45-11:15 古賀先生(A04) 11:30-12:00 出口先生(A04) |
10:00-10:30 中村先生(A04) 10:45-11:15 高際先生(A04) |
| 1/26(水) |
|---|
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10:00-10:30 桂先生(A03) 10:45-11:15 橋爪先生(A04) 11:30-12:00 枝川先生(A04) 13:00-13:30 室先生(A01) 13:45-14:15 木村先生(A01) |
公募班を対象に、総括班によるサイトビジットを下記の日程(2021/2/22～3/11)で行います。
| 2/22(月) | 3/2(火) | 3/11(木) |
|---|---|---|
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10:00-10:30 山浦先生(A01) 10:45-11:15 吉澤先生(A02) 11:30-12:00 鈴木先生(A04) |
10:00-10:30 亀岡先生(A04) 10:45-11:15 幸坂先生(A04) 11:30-12:00 湯葢先生(A02) 13:00-13:30 柚原先生(A01) 13:45-14:15 山本先生(A01) 14:30-15:00 Stellhorn先生(A02) 15:15-15:45 酒井先生(A04) 16:00-16:30 松本先生(A02) |
10:00-10:30 関山先生(A04) 10:45-11:15 大熊先生(A04) 11:30-12:00 村上先生(A04) 13:00-13:30 那波先生(A04) 13:45-14:15 義永先生(A03) 14:30-15:00 手塚先生(A04) 15:15-15:45 坂井先生(A04) 16:00-16:30 井手上先生(A01) 16:45-17:15 永井先生(A03) |
計画班を対象に、総括班によるサイトビジットを下記の日程で行います。
| 9/7(月) | 9/23(水) | 9/24(木) | 9/25(金) |
|---|---|---|---|
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13:00-13:30 橋爪先生(A04) 13:45-14:15 高際先生(A04) 14:30-15:00 出口先生(A04) 15:15-15:45 高倉先生(A02) 16:00-16:30 田村先生(A01) |
10:00-10:30 杉本先生(A04) 10:45-11:15 中村先生(A04) 11:30-12:00 枝川先生(A04) 13:00-13:30 藤田先生(A02) 13:45-14:15 松下先生(A02) 14:30-15:00 山田先生(A01) 16:00-16:30 野澤先生(A03) 16:45-17:15 桂先生(A03) 17:30-18:00 吉田先生(A03) |
10:00-10:30 綿貫先生(A02) 10/7(水) 10:00-10:30 綿貫先生(A02) 10:45-11:15 松浦先生(A02) 10/7(水) 10:45-11:15 松浦先生(A02) 11:30-12:00 古賀先生(A04) |
10:00-10:30 門馬先生(A02) 10:45-11:15 竹森先生(A03) 11:30-12:00 木村先生(A01) 13:00-13:30 室先生(A01) |
研究を進める上での具体的な問題点
詳細はこちらをご覧ください。
Materials Transactionsへの論文投稿について
日本金属学会の欧文誌 Materials Transactions 62巻3号(2021年3月発行)にてハイパーマテリアルに関する特集企画が予定されております。
計画班メンバーの皆様におかれましては、お一人一報以上、公募班メンバーも含め、できる限り多くの領域メンバーとの融合研究（共著論文）として投稿下さいますようお願い申し上げます。また、公募班メンバーの方々も〆切が大変近くて恐縮ですが、できれば、ご投稿いただければ幸いです。なおご寄稿いただける方は，下記Webより予備登録をお願いいたします。
【掲載予定号】 第62巻第3号（2021年3月発行）
【原稿締切日】 2020年9月1日（火）厳守 ⇒ 10/1(木)に延期
【企画世話人】 田村 隆治、高倉 洋礼、出口 和彦、吉田 亮、木村 薫
執筆に際しては，日本金属学会欧文誌投稿の手引き・執筆要領（下記URL）をご参照ください。
https://jim.or.jp/PUBS/thesis_e/gude_e.html
ご投稿の際は下記ページからお願いいたします。
https://mc.manuscriptcentral.com/matertrans
通常の投稿論文と同様の審査課程を経て，編集委員会で採否を決定します。
（ただし，修正を求められたRegular Articleは返却日から２０日以内，Express Rapid Publicationは１４日以内に再提出すること。）
問い合せ先：日本金属学会欧文誌編集委員会
〒980-8544 仙台市青葉区一番町1-14-32
TEL 022-223-3685 FAX 022-223-6312
E-mail: editjt@jim.or.jp
(URL):https://jim.or.jp/
謝辞のお願い
論文等により成果を発表する場合には、Acknowledgement（謝辞）の記載をよろしくお願いいたします。
本領域での記載例は次のとおりです。
【英文】：This work was supported by JSPS KAKENHI Grant Number JP8桁の課題番号.
【和文】：本研究はJSPS科研費 JP8桁の課題番号の助成を受けたものです。
計画研究の課題番号と課題名の対応は以下の通りです。
(公募班の先生方は、謝辞にご自分の課題番号を加えてください。)
19H05817：ハイパーマテリアル：補空間が創る新物質科学
19H05818：ハイパーマテリアルの合成
19H05819：ハイパーマテリアルの構造
19H05820：ハイパーマテリアルのインフォマティクスとhidden orderの探索
19H05821：ハイパーマテリアルの物性とhidden orderの探索
共用装置
新学術予算で購入した装置
磁気特性測定装置
詳細
| 装置メーカー/型番 | 日本カンタム・デザイン / MPMS3 |
|---|---|
| 測定物理量 | 磁化 |
| 仕様 |
試料サイズ：～4mmφ×40mm 程度 測定温度範囲：1.8～400 K ,B <7 T (3Heオプション 0.4 k～) 交流周波数範囲：0.1Hz～1kHz 交流振幅：0.1 ～10 Oe 測定雰囲気：真空 |
| 備考 | 真鍮、石英、ストロー、粉末試料用ホルダー、高圧セル(>1.3Gpa)有 |
| 利用方法 | 装置担当者(石川)にメールで申請。連絡先：a_ishikawa@rs.tus.ac.jp 試料郵送による測定も応相談。 |
| 利用条件 | 特筆事項はありません。 |
| 装置管理者名/所属 | 石川明日香（東京理科大学） |
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単結晶X線構造解析システム
詳細
| 装置メーカー/型番 | リガク XtaLAB Synergy-R/Mo/QC |
|---|---|
| 測定物理量 | 単結晶構造解析 |
| 仕様 |
試料サイズ：数十ミクロン以下 温度範囲：90 K（N2）～室温 |
| 備考 | 室温以下の測定にはあらかじめ準備が必要です。応相談。 |
| 利用方法 |
装置管理者(高倉洋礼)までメールでご連絡下さい。連絡先：takakura@eng.hokudai.ac.jp 試料郵送による測定可。解析までは応相談。 |
| 利用条件 | 消耗品は利用者負担でお願いします。 |
| 装置管理者名/所属 | 高倉洋礼(北海道大学) |
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中性子背面反射型分光器クライオスタット
詳細
| 装置メーカー/型番 | CRYO INDUSTRIES |
|---|---|
| 測定物理量 | 中性子散乱 |
| 仕様 |
試料サイズ：最大30x30x40mm 測定温度範囲：1.5K~300K (MLF所有の希釈冷凍機インサートを用いれば最低温度は65mK） 測定雰囲気：ヘリウムもしくは真空 |
| 備考 | 室温から1.5Kまで20分で冷却可能。測定時間は試料の中性子散乱能に依存する。 |
| 利用方法 |
装置担当者(松浦)にメールで相談。連絡先：m_matsuura@cross.or.jp |
| 利用条件 |
中性子のビームタイムは課題申請（年2回：5月、11月）を行い、 採択されれば申請の約半年後に実験できる。 |
| 装置管理者名/所属 | 松浦直人(CROSS) |
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高温比熱測定装置
詳細
| 装置メーカー/型番 | Netzsch DSC404-F3 |
|---|---|
| 測定物理量 | 比熱容量 |
| 仕様 |
試料サイズ：数mm角 測定温度範囲：室温から1500℃ 測定雰囲気：Arガスフロー(標準) |
| 備考 | 測定温度域によって使用する試料容器が異なります。 |
| 利用方法 | 装置管理者(高際良樹)までメールでご連絡下さい。連絡先：TAKAGIWA.Yoshiki@nims.go.jp |
| 利用条件 | 消耗品は利用者負担でお願いします。 |
| 装置管理者名/所属 | 高際良樹(NIMS) |
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卓上蛍光X線分析装置
詳細
| 装置メーカー/型番 | 島津製作所 EDX-7000 |
|---|---|
| 測定物理量 | 定性分析 半定量分析 |
| 仕様 |
検出元素範囲：Na～U 試料サイズ：0.3～30 mm 測定温度範囲：室温 測定雰囲気：大気、真空（軽元素含むとき） |
| 利用方法 |
装置担当者(室裕司)までメールにて申請。連絡先：ymuro@pu-toyama.ac.jp |
| 利用条件 | 特筆事項はありません。 |
| 装置管理者名/所属 | 室裕司 (富山県立大学) |
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高温型熱分析装置
詳細
| 装置メーカー/型番 | リガク/ThermoPlusEVO2 TG-DTA8122, DSC8271 |
|---|---|
| 測定物理量 | 示差熱、熱重量 示差走査熱量 |
| 仕様 |
試料サイズ：試料容器φ5.2mm H2.5/5.0mm 測定温度範囲：室温から1200℃ 測定雰囲気：Arガスフロー |
| 備考 |
粉末またはバルク試料のいずれでも良いが、バルク試料の方が酸化等の影響が軽減される。 試料のセットから測定室内を不活性ガス置換するまで30分～1時間程度要する。測定時間は温度プログラムに依存。 |
| 利用方法 |
装置管理者(藤田伸尚)にメール連絡。試料郵送による測定も応相談。連絡先：nobuhisa.fujita.a4@tohoku.ac.jp |
| 利用条件 | 測定試料多数の場合、消耗品は利用者負担でお願いします。 |
| 装置管理者名/所属 | 藤田伸尚 (東北大学) |
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粉末Ｘ線回折装置
詳細
| 装置メーカー/型番 | リガク MiniFlex600 |
|---|---|
| 測定物理量 | 結晶相同定、結晶構造解析 |
| 仕様 |
Cu線源またはCr線源 試料サイズ：25ｘ20ｘ＞0.2 mm 常用温度範囲：室温 測定雰囲気：大気 オプション：高速1次元Ｘ線検出器 PDXL定性分析 PDXLリートベルト解析 |
| 備考 | 試料を送っていただくか、来学していただき測定していただきます。２～12時間程度の時間を要します。 |
| 利用方法 |
装置管理者(高倉洋礼)までメールでご連絡下さい。連絡先：takakura@eng.hokudai.ac.jp 試料郵送による測定も応相談。 |
| 利用条件 | 消耗品は利用者負担でお願いします。 |
| 装置管理者名/所属 | 高倉洋礼(北海道大学) |
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粉末X線回折実験用高真空対応高温炉
詳細
| 装置メーカー/型番 | RIGAKU 多目的電気炉 |
|---|---|
| 測定物理量 | 熱膨張係数、結晶構造変化 |
| 仕様 |
試料サイズ：１５ｘ７ｘ0.4 mm 測定温度範囲：室温から1000℃ 測定雰囲気：真空（TMPレベル） |
| 備考 | N2, O2, Ar雰囲気下での実験を希望される方は別途打診下さい。 |
| 利用方法 |
下記の両装置担当者(廣戸＆松下)までメールにて申請。 連絡先：HIROTO.Takanobu@nims.go.jp、MATSUSHITA.Yoshitaka@nims.go.jp |
| 利用条件 | 約款事業手続きをして頂き、NIMIS規定に伴い幾らかの装置使用料の負担をお願いします。 |
| 装置管理者名/所属 | 廣戸孝信、松下能孝(NIMS) |
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放射光X線コヒーレント回折イメージング装置用局所加熱ヒーターコントローラ
詳細
| 装置メーカー/型番 | NORCADA社製 NHB-5100 |
|---|---|
| 測定物理量 | 放射光X線コヒーレント回折イメージング装置の高温実験で使用 |
| 仕様 |
測定温度範囲：室温から1100℃ 試料サイズ：40 nm ～ 数ミクロン 測定雰囲気：真空下 |
| 備考 | 射光X線コヒーレント回折イメージング装置の高温実験用途です。 |
| 利用方法 | 装置担当者(綿貫)までメールでご連絡下さい。連絡先：watanuki.tetsu@qst.go.jp |
| 利用条件 | SPring-8蓄積リング棟内に設置していますので、立ち入り可能な方に限定されます。 |
| 装置管理者名/所属 | 綿貫徹 (量子科学技術研究開発機構) |
高温対応示差熱分析装置
詳細
| 装置メーカー/型番 | リガク ThermoPlusEVO2 TG-DTA8122/H |
|---|---|
| 測定物理量 | 示差熱分析 熱重量分析 |
| 仕様 |
測定温度範囲：室温から1500℃ 測定雰囲気：アルゴン |
| 利用方法 |
装置担当者(室裕司)までメールにて申請。連絡先：ymuro@pu-toyama.ac.jp |
| 利用条件 | 特筆事項はありません。 |
| 装置管理者名/所属 | 室裕司 (富山県立大学) |
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数値計算用ワークステーション
詳細
| 装置メーカー/型番 | アプライドCervo-Deep GP-XW2145A3Q4TTSDDe |
|---|---|
| 測定物理量 | 計算値 |
| 仕様 |
Intel Xeon W-2145(8コア, 11MB, 3.7GHz) メモリ:128GB GPU:GeForce RTX 2080Ti×4 SSD:3.8TB |
| 装置管理者名/所属 | 枝川圭一 (東京大学) |
 |
100nm級粒子観察用デジタルマイクロスコープ
詳細
| 装置メーカー/型番 | (株)キーエンス社 VHX-7000 |
|---|---|
| 測定物理量 | 可視光像 |
| 仕様 |
試料サイズ：最小約300 nm径 使用温度範囲：室温 使用雰囲気：大気中 |
| 利用方法 | 装置担当者(綿貫)までメールでご連絡下さい。連絡先：watanuki.tetsu@qst.go.jp |
| 利用条件 | SPring-8蓄積リング棟内に設置していますので、立ち入り可能な方に限定されます。 |
| 装置管理者名/所属 | 綿貫徹（量研） |
ワイヤーソー
詳細
| 装置メーカー/型番 | オーリー OW-2 |
|---|---|
| 用途 | 試料切断 |
| 仕様 |
試料サイズ：最大50mm角(小型ゴニオ使用時は10mm以内) 切りしろ 0.6mm 前後移動＋2軸回転機構 |
| 備考 | リガク小型ゴニオ設置可能 |
| 利用方法 | 装置担当者(室)までメールでご連絡下さい。連絡先：ymuro@pu-toyama.ac.jp |
| 装置管理者名/所属 | 室裕司(富山県立大) |
スイングヘッドズームレンズ
詳細
| 装置メーカー/型番 | キーエンス VH-ZST |
|---|---|
| 測定物理量 | 光学像 |
| 仕様 |
倍率：20～2000倍 試料サイズ：最大10mm角 測定温度範囲：室温 測定雰囲気：大気 |
| 備考 |
キーエンスVHS-5000カメラに設置されています。３次元形状計測、スイングヘッドによる傾斜観察、 落射光・透過光観察が可能。 |
| 利用方法 | 枝川までメールにてご連絡。連絡先：edagawa@iis.u-tokyo.ac.jp |
| 利用条件 | USBメモリ等ご持参ください。 |
| 装置管理者名/所属 | 枝川圭一 (東京大学) |
 |
ワークステーション
詳細
| 装置メーカー/型番 | リアルコンピューティング RC R-X2000X Xeon Model 1台 |
|---|---|
| 測定物理量 | 数値計算用 |
| 仕様 |
ラックマウント可能なタワーケース, 電源 1200 W CPU: Intel Xeon Gold 6230R × 2 メモリ: 32 GB DDR-2933 ECC Registered × 12 SSD: 250 GB M.2 × 1 HDD: 4 TB × 1 ネットワーク: 10Gb × 2 GPU として GeForce 2080 Ti × 1 搭載 |
| 備考 |
手塚が管理する、所属グループ内の既存計算機クラスタに増設して共用化（ジョブ管理およびファイル システムの共有）しており、平均的に1台分以上を利用できています。 |
| 利用方法 |
グループに滞在される方・共同研究者で計算機資源が必要な場合は、適宜アカウントを発行しています。 装置担当者(手塚真樹)までメールにて申請。連絡先：tezuka@scphys.kyoto-u.ac.jp |
| 利用条件 | 特記事項はありません。 |
| 装置管理者名/所属 | 手塚真樹（京都大学） |
 |
物理特性測定システム
詳細
| 装置メーカー/型番 | 日本カンタム・デザイン PPMS |
|---|---|
| 測定物理量 | 比熱、電気(磁気)抵抗、Hall係数 |
| 仕様 |
試料サイズ：5～50mg、1mmx0.1mmx0.03mm以上 測定温度範囲：1.8～400K、B < 9T 測定雰囲気：真空、ヘリウム |
| 備考 | 試料を送っていただくか、来ていただいて測定していただく。必要な時間は測定内容に大きく依存します。 |
| 利用方法 |
装置担当者(出口和彦)までメールにて申請。連絡先：deguchi@nagoya-u.jp |
| 利用条件 | 消耗品、寒剤代(? : 液体ヘリウム高騰につき検討中)は利用者負担でお願いします。 |
| 装置管理者名/所属 | 出口和彦（名古屋大学） |
 |
領域内で共有可能な装置
熱電モジュール特性評価装置
詳細
| 装置メーカー/型番 | アドバンス理工 Mini-PEM |
|---|---|
| 測定物理量 | モジュール出力密度、モジュール発電効率 |
| 仕様 |
試料サイズ：最大15mm角モジュール 測定温度範囲：室温から500℃ 測定雰囲気：真空下 |
| 備考 | 測定温度点数4点に対して、試料セットから真空引きも含めて、総測定時間4時間程度の時間を要します。 |
| 利用方法 | 装置担当者(高際良樹)までメールにて申請。連絡先：TAKAGIWA.Yoshiki@nims.go.jp |
| 利用条件 | 消耗品は利用者負担でお願いします。 |
| 装置管理者名/所属 | 高際良樹(NIMS) |
 |
Cr線源XRD
詳細
| 装置メーカー/型番 | RIGAKU MiniFlex600 |
|---|---|
| 測定物理量 | 結晶相同定、結晶構造解析 |
| 仕様(試料サイズ等) |
試料サイズ：25ｘ20ｘ＞0.2 mm 常用温度範囲：室温 測定雰囲気：大気 |
| 備考 | Si無反射板、バルク試料用ホルダー有り |
| 利用方法 |
下記の両装置担当者(廣戸＆松下)までメールにて申請。 連絡先：HIROTO.Takanobu@nims.go.jp、MATSUSHITA.Yoshitaka@nims.go.jp |
| 利用条件 | 約款事業手続きをして頂き、NIMIS規定に伴い幾らかの装置使用料の負担をお願いします。 |
| 装置管理者名/所属 | 廣戸孝信、松下能孝(NIMS) |
 |
キャピラリー試料用アタッチメント（高輝度・高感度型XRD用）
詳細
| 装置メーカー/型番 | RIGAKU SmartLab 9kW |
|---|---|
| 測定物理量 | 結晶相同定、結晶構造解析 |
| 仕様 |
キャピラリー・サイズ：1.0 mm以下 温度範囲：室温 |
| 利用方法 |
下記の両装置担当者(廣戸＆松下)までメールにて申請。 連絡先：HIROTO.Takanobu@nims.go.jp、MATSUSHITA.Yoshitaka@nims.go.jp |
| 利用条件 | 約款事業手続きをして頂き、NIMIS規定に伴い幾らかの装置使用料の負担をお願いします。 |
| 装置管理者名/所属 | 廣戸孝信、松下能孝(NIMS) |
 |
中低温度用アタッチメント（高輝度・高感度型XRD用）
詳細
| 装置メーカー/型番 | RIGAKU TTK600/SmartLab 9kW |
|---|---|
| 測定物理量 | 結晶相同定、結晶構造解析 |
| 仕様 |
試料ホルダー・サイズ：14ｘ10ｘD0.8/0.2ｍｍ 温度範囲：-190～600℃ 雰囲気：真空もしくはN2 |
| 備考 | Si無反射板有り |
| 利用方法 |
下記の両装置担当者(廣戸＆松下)までメールにて申請。 連絡先：HIROTO.Takanobu@nims.go.jp、MATSUSHITA.Yoshitaka@nims.go.jp |
| 利用条件 | 約款事業手続きをして頂き、NIMIS規定に伴い幾らかの装置使用料の負担をお願いします。 |
| 装置管理者名/所属 | 廣戸孝信、松下能孝(NIMS) |
 |
低温単結晶回折計
詳細
| 装置メーカー/型番 | RIGAKU SaturnCCD |
|---|---|
| 測定物理量 | 結晶構造解析 |
| 仕様 |
試料サイズ：数十ミクロン以下 温度範囲：30 K（He）、90 K（N2）～室温 |
| 利用方法 |
下記の両装置担当者(廣戸＆松下)までメールにて申請。 連絡先：HIROTO.Takanobu@nims.go.jp、MATSUSHITA.Yoshitaka@nims.go.jp |
| 利用条件 |
約款事業手続きをして頂き、NIMIS規定に伴い幾らかの装置使用料の負担をお願いします。 Heを利用される場合のみ、Heガス代は別途御願い致します。 （目安：１日に47lのHeボンベを４～５本消費します。） |
| 装置管理者名/所属 | 松下能孝(NIMS) |
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3He 冷凍機
詳細
| 装置メーカー/型番 | オックスフォード・インストゥルメンツ HelioxVL |
|---|---|
| 測定物理量 | 比熱、電気抵抗、交流磁化率 |
| 仕様 |
試料サイズ：5～50mg、1mmx0.1mmx0.03mm以上 測定温度範囲：0.24～20K (0.24～300K) 測定雰囲気：真空 |
| 備考 |
試料を送っていただくか、来学していただき測定していただきます。 必要な時間は測定内容に大きく依存します。 |
| 利用方法 | 装置担当者(出口和彦)までメールにて申請。連絡先：deguchi@nagoya-u.jp |
| 利用条件 | 消耗品、寒剤代(? : 液体ヘリウム高騰につき検討中)は利用者負担でお願いします。 |
| 装置管理者名/所属 | 出口和彦（名古屋大学） |
 |
示差熱天秤（TG-DTA）
詳細
| 装置メーカー/型番 | リガク Thermo plus EVO2 TG-DTA |
|---|---|
| 測定物理量 | 試料の作製条件、高温熱物性に関するもの |
| 仕様 |
試料サイズ：試料サイズ：20mg 測定温度範囲：室温～1500℃ 測定雰囲気：アルゴン |
| 備考 | 試料を送っていただくか、来学していただき測定していただきます。4時間程度の時間を要します。 |
| 利用方法 | 装置担当者(出口和彦)までメールにて申請。連絡先：deguchi@nagoya-u.jp |
| 利用条件 | 消耗品は利用者負担でお願いします。 |
| 装置管理者名/所属 | 出口和彦（名古屋大学） |
 |
粉末Ｘ線回折装置
詳細
| 装置メーカー/型番 | リガク MiniFlex600 |
|---|---|
| 測定物理量 | 試料の構造に関するもの |
| 仕様 |
試料サイズ：0.5g、粉末 測定温度範囲：室温 測定雰囲気：大気中 オプション：高速1次元Ｘ線検出器 回転試料台 PDXL定性分析 PDXLリートベルト解析 |
| 備考 | 試料を送っていただくか、来学していただき測定していただきます。２～12時間程度の時間を要します。 |
| 利用方法 | 装置担当者(出口和彦)までメールにて申請。連絡先：deguchi@nagoya-u.jp |
| 利用条件 | 消耗品は利用者負担でお願いします。 |
| 装置管理者名/所属 | 出口和彦（名古屋大学） |
 |
イオンミリング
詳細
| 装置メーカー/型番 | Gatan Model 695 PIPS Ⅱ |
|---|---|
| 測定物理量 | TEM試料作製 |
| 仕様 |
イオン加速電圧: 100 eV ～8 keV イオンビーム電流: 最高 10 mA/cm2 ミリング角度範囲: 0 ～±10° 試料形状: 3 mmφ の円盤 |
| 備考 | 汎用型ですが，試料冷却（液体窒素）ステージ搭載。 |
| 利用方法 | 装置担当者(湯葢)にメールで申請。連絡先：yubuta@imr.tohoku.jp |
| 装置管理者名/所属 | 湯葢邦夫（東北大） |
 |
超電導マグネット
詳細
| 装置メーカー/型番 | Cryogenics |
|---|---|
| 測定物理量 | 電気抵抗率、磁気抵抗、ホール効果 |
| 仕様 |
測定温度範囲：室温から0.4K 測定雰囲気：4Heまたは3He(液体) 測定磁場：12T |
| 備考 |
抵抗率は2試料同時測定 ホール効果は1試料 |
| 利用方法 | 装置担当者(室)にメールで申請。連絡先：ymuro@pu-toyama.ac.jp |
| 利用条件 | 消耗品負担は相談にて |
| 装置管理者名/所属 | 室裕司（富山県立大） |
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ホール効果測定装置
詳細
| 装置メーカー/型番 | 東陽テクニカ ResiTest 8300 |
|---|---|
| 測定物理量 | 電気伝導率、ホール係数（キャリアの符号、密度、移動度） |
| 仕様 |
試料サイズ：5mm角以上、厚さ1mm程度 測定温度範囲：室温から700℃ 測定雰囲気：真空下 |
| 備考 | 0.5人・日／試料（１人来ていただき、１日に２個測定できる） |
| 利用方法 | 装置担当者(木村薫)にメールで申請。連絡先：bkimura@phys.mm.t.u-tokyo.ac.jp |
| 装置管理者名/所属 | 木村薫（東京大学） |
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テトラアーク炉
詳細
| 装置メーカー/型番 | SELEC |
|---|---|
| 備考 | 試料引上機構、ハース回転機構 |
| 利用方法 |
装置担当者(室)にメールで申請。連絡先：ymuro@pu-toyama.ac.jp 原料負担は相談にて。 |
| 装置管理者名/所属 | 室裕司（富山県立大）） |
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ホール効果測定装置
詳細
| 装置メーカー/型番 | 東陽テクニカ ResiTest 8300 |
|---|---|
| 測定物理量 | 電気伝導率、ホール係数（キャリアの符号、密度、移動度） |
| 仕様 |
試料サイズ：5mm角以上、厚さ1mm程度 測定温度範囲：室温から700℃ 測定雰囲気：真空下 |
| 備考 | 0.5人・日／試料（１人来ていただき、１日に２個測定できる） |
| 利用方法 | 装置担当者(木村薫)にメールで申請。連絡先：bkimura@phys.mm.t.u-tokyo.ac.jp |
| 装置管理者名/所属 | 木村薫（東京大学） |
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密度測定装置
詳細
| 装置メーカー/型番 | 島津製作所 アキュピック1330 |
|---|---|
| 測定物理量 | 真密度 |
| 仕様 |
試料サイズ：舞い易いものでなければ粉末も可 測定温度範囲：室温のみ 測定雰囲気：He雰囲気下 |
| 備考 | １時間／試料 |
| 利用方法 | 装置担当者(木村薫)にメールで申請。連絡先：bkimura@phys.mm.t.u-tokyo.ac.jp |
| 装置管理者名/所属 | 木村薫（東京大学） |
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高温ブリッジマン炉（螺管型シリコニット電気炉）
詳細
| 装置メーカー/型番 | シリコニット高熱工業 |
|---|---|
| 測定物理量 | 単結晶合成用 |
| 仕様 | 温度：最大1400 ℃ |
| 利用方法 | 装置担当者(那波和宏)にメールで申請。連絡先：knawa@tohoku.ac.jp |
| 装置管理者名/所属 | 那波和宏、佐藤卓（東北大） |
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熱伝導率測定装置
詳細
| 装置メーカー/型番 | Netzsch LFA467-HT |
|---|---|
| 測定物理量 | 比熱、熱拡散率、熱伝導率 |
| 仕様 |
試料サイズ：7mm角/Φ7mmもしくは10mm角/Φ10mm、厚さ2mm程度 測定温度範囲：室温から1250℃ 測定雰囲気：Arガスフロー(標準) |
| 備考 | 室温からの6温度点測定で5時間ぐらいの時間を要します。 |
| 利用方法 | 装置担当者(高際良樹)にメールで申請。連絡先：TAKAGIWA.Yoshiki@nims.go.jp |
| 利用条件 | 消耗品は利用者負担でお願いします。 |
| 装置管理者名/所属 | 高際良樹(NIMS) |
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その場試料観察機構付き熱重量・示差熱同時測定装置
詳細
| 装置メーカー/型番 | 日立ハイテクサイエンス STA7200RV |
|---|---|
| 測定物理量 | 熱重量データ、示差熱データ |
| 仕様 |
試料サイズ：数mm角 測定温度範囲：室温から1000℃ 測定雰囲気：窒素ガスフロー(標準) |
| 備考 | TG/DTA測定をしながら試料の実観察が可能です。 |
| 利用方法 | 装置担当者(高際良樹)にメールで申請。連絡先：TAKAGIWA.Yoshiki@nims.go.jp |
| 利用条件 | 消耗品は利用者負担でお願いします。 |
| 装置管理者名/所属 | 高際良樹(NIMS) |
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電気抵抗率/Seebeck係数同時測定装置
詳細
| 装置メーカー/型番 | アドバンス理工 ZEM-3 |
|---|---|
| 測定物理量 | 電気抵抗率、ゼーベック係数 |
| 仕様 |
試料サイズ：2-3mm角、長さ6mm以上の角柱試料 測定温度範囲：室温から1000℃ 測定雰囲気：ヘリウムガス雰囲気 |
| 備考 | 熱分析モード(任意の温度で昇温・降温・保持)にて測定も可能です。 |
| 利用方法 | 装置担当者(高際良樹)にメールで申請。連絡先：TAKAGIWA.Yoshiki@nims.go.jp |
| 利用条件 | 消耗品は利用者負担でお願いします。 |
| 装置管理者名/所属 | 高際良樹(NIMS) |
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粉末Ｘ線回折装置
詳細
| 装置メーカー/型番 | リガク/MiniFlex600 |
|---|---|
| 測定物理量 | 結晶相同定など |
| 仕様 |
試料サイズ：試料ホルダー 2mmΦ×0.2mm～24mmΦ×2mm 測定温度範囲：RT～500℃ 測定雰囲気：大気、窒素 オプション：回転試料台、高速1次元Ｘ線検出器、高温測定用試料ホルダー |
| 備考 | Si無反射試料板有 |
| 利用方法 | 装置担当者(石川)にメールで申請。連絡先：a_ishikawa@rs.tus.ac.jp 試料郵送による測定も応相談。 |
| 利用条件 | 特筆事項はありません。 |
| 装置管理者名/所属 | 石川明日香（東京理科大学） |
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アーク溶解装置
詳細
| 装置メーカー/型番 | 日新技研 | 仕様 |
試料サイズ：～10g程度 試料室雰囲気：アルゴン |
|---|---|
| 利用方法 | 装置担当者(石川)にメールで申請。連絡先：a_ishikawa@rs.tus.ac.jp 原料郵送による試料作製も応相談。 |
| 利用条件 | 特筆事項はありません。 |
| 装置管理者名/所属 | 石川明日香（東京理科大学） |
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液体急冷単ロール装置
詳細
| 装置メーカー/型番 | 日新技研 | 仕様 |
試料サイズ：1～5g 程度 試料室雰囲気：アルゴン |
|---|---|
| 備考 | 鋳造も可能 |
| 利用方法 | 装置担当者(石川)にメールで申請。連絡先：a_ishikawa@rs.tus.ac.jp 原料郵送による試料作製も応相談。 |
| 利用条件 | 特筆事項はありません。 |
| 装置管理者名/所属 | 石川明日香（東京理科大学） |
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蛍光X線分析装置
詳細
| 装置メーカー/型番 | JEOL/JSX-1000S |
|---|---|
| 測定物理量 | 組成分析 | 仕様 |
試料サイズ：～ 300mmΦ×80mm 粉末可 測定温度範囲：室温 測定雰囲気：真空 |
| 利用方法 | 装置担当者(石川)にメールで申請。連絡先：a_ishikawa@rs.tus.ac.jp 試料郵送による測定も応相談。 |
| 利用条件 | 特筆事項はありません。 |
| 装置管理者名/所属 | 石川明日香（東京理科大学） |
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SEM-EDX
詳細
| 装置メーカー/型番 | JEOL/JSM-IT1000S |
|---|---|
| 測定物理量 | 二次電子像，反射電子像及び組成分析 | 仕様 |
試料サイズ：～32mmΦ×20mm 測定温度範囲：室温 測定雰囲気：真空 オプション：5軸モーター駆動ステージ，加速電圧30ｋＶ |
| 利用方法 | 装置担当者(石川)にメールで申請。連絡先：a_ishikawa@rs.tus.ac.jp 試料郵送による測定も応相談。 |
| 利用条件 | 特筆事項はありません。 |
| 装置管理者名/所属 | 石川明日香（東京理科大学） |
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全自動多目的X線回折装置
詳細
| 装置メーカー/型番 | RIGAKU SmartLab SE |
|---|---|
| 測定物理量 | 結晶相同定など | 仕様 |
試料サイズ：試料ホルダー 2mmΦ×0.2mm～24mm×2mm 測定温度範囲：室温 測定雰囲気：大気 オプション：回転試料台、高速1次元Ｘ線検出器 最新版データベースICDD PDF-4＋2023搭載 |
| 備考 | Si無反射試料板有 |
| 利用方法 | 装置担当者(石川)にメールで申請。連絡先：a_ishikawa@rs.tus.ac.jp 試料郵送による測定も応相談。 |
| 利用条件 | 特筆事項はありません。 |
| 装置管理者名/所属 | 石川明日香（東京理科大学） |
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示査熱同時熱分析装置
詳細
| 装置メーカー/型番 | NETZSCH STA 449F3 Jupiter |
|---|---|
| 測定物理量 | 示差熱、熱重量 | 仕様 |
試料サイズ：数mm角 測定温度範囲：室温～1500℃ 測定雰囲気：Arガスフロー |
| 備考 | アルミ、アルミナ、白金の試料容器あり |
| 利用方法 | 装置担当者(石川)にメールで申請。連絡先：a_ishikawa@rs.tus.ac.jp 試料郵送による測定も応相談。 |
| 利用条件 | 特筆事項はありません。 |
| 装置管理者名/所属 | 石川明日香（東京理科大学） |
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ロゴ等
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